Рентгеновское излучение: формулы длины волны, закон Мозли, спектры, уравнение Вульфа-Брэгга.
Согласно первому постулату Бора движение электрона вокруг ядра возможно только по определенным орбитам, радиусы которых удовлетворяют соотношению
где: \(m\) – масса электрона, \(v_{k}\) – его скорость на \(k\)-й орбите, \(r_{k}\) – радиус этой орбиты, \(h\) – постоянная Планка, \(k\) – любое целое число (квантовое число).
Согласно второму постулату Бора частота излучения, соответствующая переходу электрона с одной орбиты на другую, определяется формулой
где: \(k\) и \(n\) – номера орбит \((n>k)\), \(W_{k}\) и \( W_{n}\) – соответствующие им значения энергии электрона.
Формула, позволяющая найти частоты \(ν\) или длины волн \(λ\), соответствующие линиям водородного спектра, имеет вид
где: \(k\) и \(n\) – номера орбит, \(c\) – скорость распространения света в вакууме, \(R\) – постоянная Ридберга, равная
Здесь \(e\) – заряд электрона, \(m\) – его масса, \(h\) – постоянная Планка и \(ε_{0}\) – электрическая постоянная.
Формула, позволяющая найти частоты \(ν\) или длины волн \(λ\) для водородоподобных ионов, имеет вид
где: \(Z\) – порядковый номер элемента в таблице Менделеева.
Дифракция рентгеновских лучей описывается уравнением Вульфа-Брэгга
где: \(d\) – постоянная решетки кристалла (расстояние между атомными плоскостями кристалла), \(\varphi\) – угол между пучком рентгеновских лучей и поверхностью кристалла.
Частота \(ν_{0}\), соответствующая коротковолновой границе сплошного рентгеновского спектра, может быть найдена из соотношения
где: \(U\) – разность потенциалов, приложенная к электродам рентгеновской трубки.
Длина волны рентгеновских характеристических лучей может быть найдена по формуле Мозли
где: \(Z\) – порядковый номер элемента, из которого сделан антикатод, \(b\) – постоянная экранирования. Последняя формула может быть переписана так
Интенсивность пучка рентгеновских лучей, прошедших сквозь пластинку толщиной \(x\), определяется формулой
где: \(I_{0}\) – интенсивность пучка, падающего на пластинку, \(μ\) [м-1] – линейный коэффициент поглощения. Коэффициент поглощения \(μ\) зависит от длины волны рентгеновских лучей и от плотности вещества. Массовый коэффициент поглощения \(μ_{m}\) связан с линейным коэффициентом поглощения \(μ\) соотношением \(\mu_{m}=\mu / \rho\) [м2/кг], где: \(\rho\) – плотность вещества.
Поглощение рентгеновских лучей различными веществами можно охарактеризовать так называемой "толщиной слоя половинного ослабления", т.е. толщиной слоя \(x_{1/2}\), уменьшающей вдвое интенсивность падающих лучей.